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近场扫描测量设备
在设计的早期阶段使用 EMC 扫描仪，您可以在潜在的辐射和抗扰度问题集成到产品中并且纠正成本高昂的问题之前检测到它们。
30MHz-3GHz电场探头
RF-E 02
RF-E 02型近场探头用于测量总线结构、较大的元器件或者供电表面产生的耦合电场。探头下方的电极面积大约是2 cm x 5 cm。该探头用于在距离模块1cm到2 cm的位置检测。
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【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
1GHz-3GHz电场探头
RF-E 03
RF-E 03探头底部的电极约为4x4mm，适合于定位较小的电场源，例如导线、集成电路板上的单个元器件。
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【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
30MHz-3GHz电场探头
RF-E 04
RF-E 04型探头用于检测由时钟线和IC表面产生的电场，其灵敏度允许在一定的距离（0.5mm到10mm）检测电子模块的电场。
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【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
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