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主要技术参数：
• 频率范围：30 MHz ... 6 GHz
• 接口：SMA, male, jack
• 重量：400 g
交付内容
XF-R 400-1磁场探头 因较大的直径（25mm）而拥有很高的灵敏度，允许在10cm以内的距离测量模块和设备。
XF-R 3-1型近场探头： 用于高分辨率直接检测组件上，譬如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器和电磁兼容性（EMC）元件等区域的射频磁场。
XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置到电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。
XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽，用于定位最小的电场，例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。测试时将该电场探头放置在受测物体上。
XF-U 2.5-1型磁场探头是一个近场探头，用于选择性测量导线、SMD组件和IC引脚中的高频电流。这个探头有一个大约0.5mm宽的磁场敏感缺口，测量时将这个缺口放在布线、IC或者电容器的连接点上。
• 频率范围：30 MHz ... 6 GHz
• 接口：SMA, male, jack
• 重量：400 g
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XF-R 400-1磁场探头 因较大的直径（25mm）而拥有很高的灵敏度，允许在10cm以内的距离测量模块和设备。
XF-R 3-1型近场探头： 用于高分辨率直接检测组件上，譬如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器和电磁兼容性（EMC）元件等区域的射频磁场。
XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置到电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。
XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽，用于定位最小的电场，例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。测试时将该电场探头放置在受测物体上。
XF-U 2.5-1型磁场探头是一个近场探头，用于选择性测量导线、SMD组件和IC引脚中的高频电流。这个探头有一个大约0.5mm宽的磁场敏感缺口，测量时将这个缺口放在布线、IC或者电容器的连接点上。
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【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
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对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响，A100，A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。
该探头包含一个传感器，这个传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。
【厂家】 .
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A100-2把在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号显示到示波器上。在检测电力或电子设备对高频电磁场（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干扰性时，该系统特别适合于检测模拟信号。
对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响，A100，A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。
该探头包含一个传感器，这个传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
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