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主要技术参数：
• 频率范围：1 GHz - 10 GHz
• 接口： SMA, female, jack
• 重量：200 g
交付内容
SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm，用于检测定位很小的电场源，例如导线、集成电路板上的单个元器件。
SX-B 3-1 是一种无源近场探头。 它检测从设备垂直发射的磁场线。 没有检测到横向进入探头的磁场线。 与 SX-R 3-1 磁场探头相比，SX-B 3-1 探头的线圈以 90° 角定位。 近场探头小巧轻便。 它有一个电流衰减护套，其上侧是电屏蔽的。 它可以连接到频谱分析仪或具有 50 Ω 输入的示波器。
SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。此外，由于探头尺寸小，适于测量很难靠近的位置，例如集成电路引脚的周围区域。
SMA-SMA 1 m es， SMA
• 频率范围：1 GHz - 10 GHz
• 接口： SMA, female, jack
• 重量：200 g
交付内容
SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm，用于检测定位很小的电场源，例如导线、集成电路板上的单个元器件。
SX-B 3-1 是一种无源近场探头。 它检测从设备垂直发射的磁场线。 没有检测到横向进入探头的磁场线。 与 SX-R 3-1 磁场探头相比，SX-B 3-1 探头的线圈以 90° 角定位。 近场探头小巧轻便。 它有一个电流衰减护套，其上侧是电屏蔽的。 它可以连接到频谱分析仪或具有 50 Ω 输入的示波器。
SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。此外，由于探头尺寸小，适于测量很难靠近的位置，例如集成电路引脚的周围区域。
SMA-SMA 1 m es， SMA
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这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部没有安装50Ω终端电阻。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
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对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响，A100，A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。
该探头包含一个传感器，这个传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
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A100-2把在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号显示到示波器上。在检测电力或电子设备对高频电磁场（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干扰性时，该系统特别适合于检测模拟信号。
对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响，A100，A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。
该探头包含一个传感器，这个传感器测量受测物中的模拟信号，并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端；光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号，或用它们来控制其他设备。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
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