BAT-Scanner大型3D可视化EMI近场扫描测试系统
BAT-Scaner
请求报价
针对小型EUT、PCB板级或IC级的辐射发射测量,近场扫描是一种应用范围较为广泛的方法,BAT-Scanner正式基于此开发设计,是世界首款与IEC61967-1-1标准兼容的3D可视化EMI测试解决方案。
厂家
.
产品分类
热门产品
测试与仪器
电磁兼容测试
近场扫描测量设备
BAT-Scanner大型3D可视化EMI近场扫描测试系统
  • 描述
  • 技术规格
  • 资料下载
应用范围:
PCB、IC、小尺寸产品的辐射发射测量、研发定位、整改。
             

主要特点:
对EUT拍照,进而可定义多个测试区域或测试高度
三维(3D)扫描,扫描顺序可调,扫描速度可调
测量数据及3D结果实时显示,完整数据3D显示
矢量测量(可选)
电磁兼容诊断,精确定位骚扰源,快速调整设计
EMC分析建模、数字仿真
 
详细技术参数:
测量频率范围:6GHz
测量体积:370(L)*370(W)*455(H)mm
图像像素:4912x3684 (4K高清)
测试扫描方式:Single/Free Run/Peak Hold/QP/AVG
扫描区域:可通过画框图的方式任意设定扫描区域, 可以多区域扫描
适用产品范围:元器件、PCB板, 小产品
测量结果格式:与IEC61967-1-1标准兼容

相关产品
RF1 set 近场探头组
RF1 set
点击详情
RF 1近场探头组包含4个无源近场探头,用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场,频率范围为30MHz到3GHz。利用RF 1探头组的探头,可以实现紧贴电子模块测量,比如贴近单个IC引脚、导线、元器件及其连接点测量,从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头,能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便,并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部没有安装50Ω终端电阻。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
25KHz单通道光纤探头
A100-1 set
点击详情
A100-1把在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号显示到示波器上。在检测电力或电子设备对高频电磁场(IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6)的抗干扰性时,该系统特别适合于检测模拟信号。 对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响,A100,A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。 该探头包含一个传感器,这个传感器测量受测物中的模拟信号,并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端;光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号,或用它们来控制其他设备。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
25KHz双通道光纤探头
A100-2
点击详情
A100-2把在EFT/ESD/高频干扰影响下的模拟信号显示到示波器上。在检测电力或电子设备对高频电磁场(IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6)的抗干扰性时,该系统特别适合于检测模拟信号。 对电磁场进行给定的调制时会对模拟信号产生影响,A100,A200和A300系列模拟信号测量系统能够快速识别到这些影响。 该探头包含一个传感器,这个传感器测量受测物中的模拟信号,并把测得的模拟信号转化为光信号。光信号通过光纤传到示波器的光学输入端;光学输入端再把光信号转化为电子模拟信号。示波器可以显示这些信号,或用它们来控制其他设备。
【厂家】 .
【产品分类】 测试与仪器 - 电磁兼容测试 - 近场扫描测量设备
热线电话
021-51001982

关注我们

数据加载中请稍后

数据加载中,请稍后...